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MICROELECTRONICS RELIABILITY

ジャーナルタイトルで検索 MICROELECTRON R 最新のコメント: 2024.03.19:投稿 2024.05.03:小修、2人の査読者、査読意見に対する回... (2024-06-14)


ジャーナル名:   ISSN:   主題分野:   インパクトファクタ範囲: -
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[MICROELECTRONICS RELIABILITY]こんにちは、このページの訪問者は90247番目です。

ジャーナル プロフィール
ジャーナル タイトルMICROELECTRONICS RELIABILITY MICROELECTRONICS RELIABILITY
LetPub Score
6.5
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7.1

Influence
5.4

Speed
8.9

ジャーナルの略称MICROELECTRON RELIAB
ISSN0026-2714
h-index80
CiteScore
CiteScoreSJRSNIPCiteScore Rank
3.300.3940.801
Subject fieldQuartilesRankPercentile
Category: Engineering
Subcategory: Safety, Risk, Reliability and Quality
Q283 / 207
Category: Engineering
Subcategory: Electrical and Electronic Engineering
Q2395 / 797
Category: Engineering
Subcategory: Atomic and Molecular Physics, and Optics
Q3118 / 224
Category: Engineering
Subcategory: Condensed Matter Physics
Q3230 / 434
Category: Engineering
Subcategory: Surfaces, Coatings and Films
Q374 / 132
Category: Engineering
Subcategory: Electronic, Optical and Magnetic Materials
Q3161 / 284

自己引用率 (2023-2024)12.50%自己引用率トレンド
掲載範囲
Microelectronics Reliability, is dedicated to disseminating the latest research results and related information on the reliability of microelectronic devices, circuits and systems, from materials, process and manufacturing, to design, testing and operation. The coverage of the journal includes the following topics: measurement, understanding and analysis; evaluation and prediction; modelling and simulation; methodologies and mitigation. Papers which combine reliability with other important areas of microelectronics engineering, such as design, fabrication, integration, testing, and field operation will also be welcome, and practical papers reporting case studies in the field and specific application domains are particularly encouraged.

Most accepted papers will be published as Research Papers, describing significant advances and completed work. Papers reviewing important developing topics of general interest may be accepted for publication as Review Papers. Urgent communications of a more preliminary nature and short reports on completed practical work of current interest may be considered for publication as Research Notes. All contributions are subject to peer review by leading experts in the field.
公式サイトhttp://www.journals.elsevier.com/microelectronics-reliability/
オンライン原稿提出https://www.editorialmanager.com/MICREL
オープンアクセスNo
出版社Elsevier Ltd
主題分野工学
出版国/地域ENGLAND
発行頻度月刊
発行開始年1964
年間記事数310年間記事数トレンド
ゴールド OA 割合14.36%
Web of Science 四分位
2023-2024
WOS Quartile: Q3

CategoryEditionJIF QuartileJIF RankingJIF Percentage
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIEQ3239/352
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGYSCIEQ4113/140
PHYSICS, APPLIEDSCIEQ3131/179
インデックス (SCI or SCIE)Science Citation Index
Science Citation Index Expanded
PubMed Central (PMC) へのリンクhttps://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0026-2714%5BISSN%5D
平均査読期間 *出版社からの許可を得たデータ:
著者からのデータ: Fast, 2-4 Week(s)
Elsevierのデータ: Average 8.3 Week(s)
競争力 *著者からのデータ: Easy
オンライン記事の公開時間Elsevierのデータ: Average 13.3 Week(s)
参考になるリンク
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自己引用率トレンド 年間記事数トレンド
著者のコメント
*すべてのレビュープロセスの指標、例えば受理率やレビューの速さは、ユーザーが提出した原稿に限定されています。そのため、これらの指標はジャーナルの正確な競争力や速さを反映していない可能性があります。
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  [MICROELECTRONICS RELIABILITY] のレビューレビューを書く
著者: YuGF


分野: 工学
査読期間: 2.0 month(s)
結果: 改訂後に受け入れられました


レビューを書く

2024-06-14 19:43:25 レビューした
2024.03.19:投稿
2024.05.03:小修、2人の査読者、査読意見に対する回答期限は3週間
2024.05.23:査読意見の返却
2024.06.11: 受理
(0) いいね! | YuGF

著者: LEEG


分野: 材料科学
査読期間: 7.0 month(s)
結果: 改訂後に受け入れられました


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2024-02-20 16:04:00 レビューした
査読者を見つけるのに長い時間がかかり、投稿してから3ヶ月以上かかり大幅な修正が送られました。修正後、さらに2ヶ月以上待って受理され、進行状況を促すためにメールを送らなければなりませんでした。投稿と修正はともに促されるとすぐに進捗が更新され、編集者自身が審査したと思われます
(1) いいね! | LEEG

著者: DASHAN739111


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


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2024-01-29 13:27:13 レビューした
こんにちは、メールアドレスはありますか?
(0) いいね! | DASHAN739111

著者: chrono_w


分野: 工学
査読期間: 9.0 month(s)
結果: 改訂後に受け入れられました


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2023-12-20 11:04:36 レビューした
編集部を批判する。彼らは良くレビューを忘れてしまい、リマインドしなければ進捗を更新しない。最終的にはクリスマス前に投稿を受け入れた
(0) いいね! | chrono_w

著者: chrono_w


分野: 工学
査読期間: 9.0 month(s)
結果: 改訂後に受け入れられました


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2023-12-20 11:04:08 レビューした
2023年3月3日にジャーナルに提出
2023年4月18日に必要なレビューが完了
2023年5月1日 大規模な改訂
2023年6月5日に再提出
2023年9月6日 待ちすぎて原稿を促す手紙を書く
2023年9月25日に決定中
2023年9月26日 小規模な改訂
2023年10月20日に再提出
2023年11月8日に決定中
2023年11月21日 小規模な改訂
2023年11月23日に再提出
2023年12月18日 待ちすぎたため、再び原稿を促す手紙を書く
2023年12月19日に決定中
2023年12月20日 受諾

信頼性領域で優れたジャーナルが2名の査読者を割り当てられましたが、おそらくそれぞれの専門分野が異なるため、1名はプロセス装置の方向に、もう1名はシステムの方向に傾いていると推測されます。お互いに興味を持っている分野で多くの質問や提案を出してくれたので、論文の品質向上に大いに役立っています
(2) いいね! | chrono_w

著者: qlwym


分野: 材料科学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


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2023-11-18 10:03:42 レビューした
11月初に投稿し、5日から現在審査中です
(0) いいね! | qlwym

著者: wjh1997


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


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2023-09-04 21:39:13 レビューした
以下の文章を英語と日本語に翻訳し、それぞれのタイトルを付けてください: 9.1 提出
(0) いいね! | wjh1997

著者: cheese1996


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


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2022-11-03 16:34:45 レビューした
10月18日 提交
10月21日 審査中
11月3日 審査中
最後の審査ステータスは10月25日のままです。
まだ不安げに待っています、最初の審査にはどれくらい時間がかかるのかわかりません
(0) いいね! | cheese1996

著者: 一路绿灯


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


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2022-03-24 15:21:04 レビューした
こんにちは、このジャーナルへの投稿に使用しているテンプレートは何ですか?ホームページにはフォーマットテンプレートに関する多くの要件がないことに気づきました
(0) いいね! | 一路绿灯

著者: 吟梦潇湘


分野: 工学
査読期間: 2.0 month(s)
結果: 改訂後に受け入れられました


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2022-02-05 22:28:36 レビューした
2021年7月27日 提交至期刊
2021年8月1日 编辑
2021年8月2日 審査中
2021年8月8日 審査中
2021年8月11日 審査中
2021年8月28日 決定中
2021年8月30日 修正
2021年9月29日 再提出
2021年9月29日 编辑
2021年10月1日 審査中
2021年10月16日 審査中
2021年10月29日 審査中
2021年11月23日 決定中
2021年11月25日 微修正
2021年12月23日 再提出
2021年12月24日 编辑
2022年1月4日 審査中
2022年1月6日 レビュー完了
2022年1月8日 決定中
2022年1月11日 承認
(0) いいね! | 吟梦潇湘

著者: 吟梦潇湘


分野: 工学
査読期間: 2.0 month(s)
結果: 改訂後に受け入れられました


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2022-02-05 22:24:45 レビューした
一つの大規模な改修と一つの小規模な修理、全体で4か月半かかりました
(3) いいね! | 吟梦潇湘

著者: 吟梦潇湘


分野: 工学
査読期間: 2.0 month(s)
結果: 改訂後に受け入れられました


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2022-02-05 22:23:27 レビューした
マイクロ・ナノパッケージング方向に関する記事は、速さの点でまあまあですが、肝心の点は、よく受け入れられています
(1) いいね! | 吟梦潇湘

著者: huiyi


分野: 工学
査読期間: 1.0 month(s)
結果: 保留中&不明


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2021-11-18 20:22:20 レビューした
こんにちは、このジャーナルのテンプレートをお持ちですか?ありがとうございます
(0) いいね! | huiyi

著者: Master_Fan


分野: 工学
査読期間: 3.0 month(s)
結果: 改訂後に受け入れられました


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2020-06-24 17:56:36 レビューした
マイクロエレクトロニクスの信頼性分野における非常に優れたジャーナルであり、業界で高い評価を受けています。研究の方向が狭いため、インパクトファクターはあまり高くありませんが、このジャーナルの品質は非常に高く、その分野において高水準のジャーナルとされています

(13) いいね! | Master_Fan

著者: xianger


分野: コンピュータ科学
査読期間: 3.0 month(s)
結果: 改訂後に受け入れられました


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2017-08-02 16:32:39 レビューした
3ヶ月選抜され、最初の試験結果が戻ってきました。問題は大きくはありませんが、返信後、1ヶ月経過した結果が受け入れられました
(0) いいね! | xianger

著者: Anonymous


分野: 工学
査読期間: 6.0 month(s)
結果: 保留中&不明


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2017-03-27 16:26:20 レビューした
このジャーナルは掲載が難しい。審査者は少し厳しいです

(1) いいね! | Anonymous

著者: Anonymous


分野: コンピュータ科学
査読期間: 1.0 month(s)
結果: 改訂後に受け入れられました


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2016-05-20 06:58:47 レビューした
半導体/マイクロエレクトロニクス信頼性方向の良いジャーナル
(2) いいね! | Anonymous

著者: 匿名


分野: コンピュータ科学
査読期間: 0.0 month(s)
結果:


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2013-04-22 10:02:00 レビューした
マイクロエレクトロニクス信頼性分野の雑誌には、LED、パッケージ、デバイスの信頼性に関する記事を投稿することができます。査読速度は不明ですが、現在、投稿されています
(2) いいね! | 匿名

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