X
    アカデミックビジュアライゼーションスタジオRC   ログイン (EN)   原稿を依頼する (EN)
学術英語編集

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

ジャーナルタイトルで検索 IEEE ELECTR DEV 最新のコメント: 記事はどうですか? (2024-06-07)


ジャーナル名:   ISSN:   主題分野:   インパクトファクタ範囲: -
インデックス:   カテゴリー:   オープンアクセス:   Sort by:

[IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS]こんにちは、このページの訪問者は202715番目です。

ジャーナル プロフィール
ジャーナル タイトルIEEE ELECTRON DEVICE LETTERS IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
LetPub Score
8.1
51 ratings
Rate

Reputation
8.8

Influence
7.4

Speed
9.3

ジャーナルの略称IEEE ELECTR DEVICE L
ISSN0741-3106
h-index135
CiteScore
CiteScoreSJRSNIPCiteScore Rank
8.201.2501.500
Subject fieldQuartilesRankPercentile
Category: Engineering
Subcategory: Electrical and Electronic Engineering
Q1128 / 797
Category: Engineering
Subcategory: Electronic, Optical and Magnetic Materials
Q151 / 284

自己引用率 (2023-2024)9.80%自己引用率トレンド
掲載範囲
IEEE Electron Device Letters publishes original and significant contributions relating to the theory, modeling, design, performance and reliability of electron and ion integrated circuit devices and interconnects, involving insulators, metals, organic materials, micro-plasmas, semiconductors, quantum-effect structures, vacuum devices, and emerging materials with applications in bioelectronics, biomedical electronics, computation, communications, displays, microelectromechanics, imaging, micro-actuators, nanoelectronics, optoelectronics, photovoltaics, power ICs and micro-sensors.
公式サイトhttp://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=55
オンライン原稿提出http://mc.manuscriptcentral.com/edl
オープンアクセスNo
出版社Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
主題分野工学
出版国/地域UNITED STATES
発行頻度月刊
発行開始年1980
年間記事数477年間記事数トレンド
ゴールド OA 割合4.62%
Web of Science 四分位
2023-2024
WOS Quartile: Q2

CategoryEditionJIF QuartileJIF RankingJIF Percentage
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIEQ294/352
インデックス (SCI or SCIE)Science Citation Index
Science Citation Index Expanded
PubMed Central (PMC) へのリンクhttps://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0741-3106%5BISSN%5D
平均査読期間 *出版社からの許可を得たデータ:
著者からのデータ: About 1.3 month(s)
競争力 *著者からのデータ: About 25%
参考になるリンク
関連するジャーナル 【IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS】CiteScoreトレンド
自己引用率トレンド 年間記事数トレンド
著者のコメント
*すべてのレビュープロセスの指標、例えば受理率やレビューの速さは、ユーザーが提出した原稿に限定されています。そのため、これらの指標はジャーナルの正確な競争力や速さを反映していない可能性があります。
  • 同じ学問分野のジャーナル
  • CiteScoreトレンド
  • 自己引用率トレンド
  • 年間記事数トレンド
  •  
    学問分野内の信頼できるジャーナル インパクトファクター
    PROCEEDINGS OF THE IEEEH-index: 250

    CiteScore: 46.40
    IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCEH-index: 326

    CiteScore: 28.40
    IEEE TRANSACTIONS ON IMAGE PROCESSINGH-index: 242

    CiteScore: 20.90
    IEEE TRANSACTIONS ON FUZZY SYSTEMSH-index: 170

    CiteScore: 20.50
    IEEE SIGNAL PROCESSING MAGAZINEH-index: 155

    CiteScore: 27.20
    IEEE TRANSACTIONS ON KNOWLEDGE AND DATA ENGINEERINGH-index: 148

    CiteScore: 11.70
    IEEE Journal of Selected Topics in Signal ProcessingH-index: 93

    CiteScore: 19.00
    IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS FOR VIDEO TECHNOLOGYH-index: 154

    CiteScore: 13.80
    IEEE TRANSACTIONS ON INTELLIGENT TRANSPORTATION SYSTEMSH-index: 112

    CiteScore: 14.80
    ENGINEERING APPLICATIONS OF ARTIFICIAL INTELLIGENCEH-index: 86

    CiteScore: 9.60
    学問分野内で最も検索されたジャーナル ページビュー
    IEEE SENSORS JOURNAL1008059
    EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS980120
    IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT868912
    IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL ELECTRONICS746399
    ENGINEERING APPLICATIONS OF ARTIFICIAL INTELLIGENCE577961
    PATTERN RECOGNITION544660
    IEEE TRANSACTIONS ON INTELLIGENT TRANSPORTATION SYSTEMS537463
    IEEE TRANSACTIONS ON IMAGE PROCESSING499431
    MULTIMEDIA TOOLS AND APPLICATIONS496697
    IEEE SIGNAL PROCESSING LETTERS458749
  •  

    IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
    来年の予測:
    着実な増加 変化なし 徐々に減少  更新する
  •  

     
  •  

     


最初    前へ    1    2    次へ    最後  (ページ
/2)
  [IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS] のレビューレビューを書く
著者: 辣条小王子


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2024-06-07 15:03:16 レビューした
記事はどうですか?
(0) いいね! | 辣条小王子

著者: 辣条小王子


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2024-06-07 15:02:47 レビューした
はい、私は見つけました
(0) いいね! | 辣条小王子

著者: 辣条小王子


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2024-06-07 15:02:14 レビューした
現在審査中です
(0) いいね! | 辣条小王子

著者: lhgsgtc


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2024-05-31 10:41:07 レビューした
IEEE EDLに初めて投稿するんですが、共同で一番著者になることはできますか?
(0) いいね! | lhgsgtc

著者: Peter-Zhang


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2024-05-28 21:39:02 レビューした
私はレビュー中で50日近く経ちましたが、催促のメールを送っても返信がありません
(0) いいね! | Peter-Zhang

著者: 一阵强风


分野: 物理学と天文学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2024-05-14 17:25:46 レビューした
編集者の割り当て待ちです。もう20日が経ちましたが、どうなっていますか?
(0) いいね! | 一阵强风

著者: non


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2023-12-28 10:05:22 レビューした
断りました
(0) いいね! | non

著者: HD爱科研1


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2023-12-13 17:13:26 レビューした
レビュワーのコメントを受け取りましたか?
(0) いいね! | HD爱科研1

著者: non


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2023-12-11 16:34:13 レビューした
12.11 決定の承認をお待ちしています
(0) いいね! | non

著者: non


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2023-12-05 10:47:10 レビューした
10/23 投稿
11/06 審査中
今まで1ヶ月経ちましたが、まだ何の連絡もありません
(0) いいね! | non

著者: Mr.ZHU


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2023-08-08 10:41:31 レビューした
8.2 返稿 翻译成“8.2 原稿返却”。
8.7 受理 翻译成“8.7 受理
(0) いいね! | Mr.ZHU

著者: Mr.ZHU


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2023-07-30 13:54:47 レビューした
マイクロモーターの分野
7月13日に提出
7月28日に7日間で細かい修正が終了
速度は本当に速いです。結果も非常に良く、ほとんどネガティブなフィードバックはありません。
私はこの仕事で良い仕事をしたと思います。残念ながら、私はTIEの提出で運があまりよくなかったため、受賞しませんでした。
ただし、EDLにすぐに認識されることもかなり良いことです
(0) いいね! | Mr.ZHU

著者: 龙里


分野: 工学
査読期間: 1.0 month(s)
結果: 拒否されました


レビューを書く

2023-07-20 10:19:14 レビューした
このジャーナルに投稿する際には運が本当に重要です。適切な編集者に出会うことが成功への第一歩であり、それに続いて適切な査読者を見つけ、影響力のある著者がいるかどうかも重要です。私は世界的に優れたと信じていた作品を提出しましたが、第二ラウンドの査読で却下されました。最初のラウンドには2人の査読者がいましたが、第二ラウンドには5人もいました!5人の査読者のうち、4人が記事に非常に興味があると言いつつも内容の追加を提案し、1人だけが直接受け入れました。5人も!各査読者からのたった1文のコメントだけで、編集者は記事に大幅な修正が必要だと考えましたが、それはジャーナルのスピリットに反するし、第二ラウンドの査読では大幅な修正を許可しません。本当に諦めます。私は自分の記事が却下されたことを受け入れましたが、査読者によって記事がコピーされることを恐れています
(0) いいね! | 龙里

著者: 资深柚子


分野: 工学
査読期間: 1.0 month(s)
結果: 改訂後に受け入れられました


レビューを書く

2023-06-30 23:14:00 レビューした
一般的に、記事が1週間拒否されなかった場合、すでに査読用に送信されており、編集者は処理中にのみステータス「審査中」を確認することができます
(0) いいね! | 资深柚子

著者: zlq1990


分野: 工学
査読期間: 1.0 month(s)
結果: 直接受け入れられました


レビューを書く

2023-06-11 21:19:03 レビューした
電子デバイス分野のトップジャーナルであり、革新的であり、研究分野で権威的である高い要求を求めています
(6) いいね! | zlq1990

著者: 噜噜噜1


分野: 物理学と天文学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2023-06-04 14:32:02 レビューした
大文字の「審査中」は審査中を意味するのか誰か知っていますか? 1か月間この状態です…
(0) いいね! | 噜噜噜1

著者: 咸鱼fly


分野: 材料科学
査読期間: 1.0 month(s)
結果: 改訂後に受け入れられました


レビューを書く

2023-04-26 11:00:31 レビューした
EDLの位置づけは何ですか、なぜ第2区で、トップではないのですか?
(0) いいね! | 咸鱼fly

著者: rourou554


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2022-12-16 10:52:07 レビューした
2022-12-15リジェクト
(0) いいね! | rourou554

著者: rourou554


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2022-12-14 15:57:50 レビューした
2022-12-2 審査中
2022-12-13 決定承認を待っています
(0) いいね! | rourou554

著者: rourou554


分野: 工学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2022-12-05 14:51:38 レビューした
提出申请,等待结果
(2) いいね! | rourou554

著者: luner


分野: 物理学と天文学
査読期間: 1.0 month(s)
結果: 改訂後に受け入れられました


レビューを書く

2022-08-24 15:06:41 レビューした
小秀已经接受
(0) いいね! | luner

著者: luner


分野: 物理学と天文学
査読期間: 0.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2022-05-26 13:37:07 レビューした
レビューコメントの回答に21日かかりました。主要な修正が再提出され、結果を待っています
(0) いいね! | luner

著者: xwei


分野: 工学
査読期間: 1.0 month(s)
結果: 改訂後に受け入れられました


レビューを書く

2022-03-11 14:44:25 レビューした
2022年3月11日のままで受け入れる
(0) いいね! | xwei

著者: xwei


分野: 工学
査読期間: 1.0 month(s)
結果: 保留中&不明


レビューを書く

2022-02-19 11:04:08 レビューした
10-Jan-2022 EDの予備決定を待っています
20-Jan-2022 ADMにリマインダーの手紙を送りました
20-Jan-2022 決定承認を待っています
22-Jan-2022 大幅な修正/拒否および再提出(22-Jan-2022)
30-Jan-2022 レビュー中
7-Feb-2022 EDの予備決定を待っています
16-Feb-2022 決定承認を待っています
17-Feb-2022 小さな修正
18-Feb-2022 EDの予備決定を待っています
(0) いいね! | xwei

著者: LhAFb


分野: 物理学と天文学
査読期間: 1.0 month(s)
結果: 改訂後に受け入れられました


レビューを書く

2022-02-15 17:28:02 レビューした
在过去的两年中,了解情况的人知道,他们必须提交某些东西,要么是第一个,要么是最重要的,才有修正/接受的机会。评审过程非常专业和迅速,所以如果你有优秀的工作,那么值得一试。
2021年11月24日 重新提交;2021年12月6日 接受
(4) いいね! | LhAFb

最初    前へ    1    2    次へ    最後  (ページ
/2)

[IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS] のレビューを書き始める:





Contact us

Contact us  

Your name*

Your email*

Your message*

Please fill in all fields and provide a valid email.

Security Code*